ICP-MS簡述
20世紀60年代末期,采用電感耦合等離子體源的原子光譜技術成為當時應用于微量元素分析的一項非常有前
途的技術(Greenfield等,1964; Wendt與Fassel, 1965)。但在分析超低含量物質時由于背景光譜增強,光譜干擾
嚴重使分析靈敏度和準確度達不到要求。只有質譜法能同時滿足譜圖簡單、分辨率適中和較低檢出限的要求。因此, ICP-AES所具有的樣品易于引入、分析速度快、多元素同時分析的特點與質譜儀的聯用成為科學和商業上研究的
熱點。1970年許多公司深入的參與了該技術的研究,CP作為發射源使等離子體中分析物有效電離能夠滿足新一代
儀器源的要求。同時也注意到惰性氣體在大氣壓下的電等離子體可能是一個很好的離子源。因此人們采用四極桿 質量分析器和通道式離子檢測器開展可行性研究。Gral在70年代中期首先報道了用等離子體作為離子源的質譜分 析法。1981年Gray在Surrey實驗室設計完成了 ICP源上所預期性能的設備,獲得了張ICP譜圖。1983年英 國VG公司與加拿***ciex公司推出商業化的ICP-MS,1984年在用戶實驗室才安裝ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化學分析中廣泛應用開來。
查看儀器狀態欄和報警信息:儀器的控制界面上通常會顯示狀態欄和報警信息,國產ICP-MS質譜儀價格,這些可以提供關于故障或異常的初步線索。
回顧近期操作記錄:檢查近的操作記錄,包括樣品處理、參數設置等,看是否有異常操作或變化。
檢查氣源和氣源壓力:確保氣源供應正常,氣源壓力在合適的范圍內。
檢查樣品引入系統:檢查、毛細管等部件是否堵塞或有泄漏。
檢查真空系統:確保真空泵正常工作,真空度是否達到要求。
重新校準和校正:嘗試進行儀器的校準和校正,以排除測量誤差。
清洗和維護:對可能受污染的部件進行清洗,如離子源、接口等。
重啟儀器:有時候,簡單地重啟儀器可能會解決一些臨時的故障。
參考儀器手冊:查閱儀器的操作手冊和故障排除指南,尋找針對特定故障的解決方案。
聯系技術支持:如果自己無法解決問題,及時聯系儀器制造商的技術支持團隊,他們可以提供的指導和維修服務。
參數設置:如射頻功率、離子源溫度、氣體流量等,這些參數會影響儀器的性能和分析結果。
質量掃描:可以設置質量范圍、掃描速度等,用于監測和分析特定質量數的離子。
數據采集:控制數據的采集時間、積分時間等,以獲取所需的分析數據。
校準和校正:進行校準曲線的建立、質量校正等操作,確保測量的準確性。
數據處理和顯示:顯示實時的質譜圖、強度數據等,并提供數據處理和分析的功能。
系統狀態監測:顯示儀器的運行狀態、氣源壓力、真空度等信息,以便及時發現潛在問題。
方法編輯和保存:可以創建、編輯和保存分析方法,方便后續實驗的重復使用。
用戶設置和權限管理:根據不同用戶的需求,設置相應的權限和操作選項。
故障診斷和報警:當儀器出現故障或異常時,提供相應的診斷信息和報警提示。這些只是一般情況下 ICP-MS 質譜儀控制界面可能包含的功能,具體的界面布局和操作方式會根據儀器的特點和用戶需求而有所不同。
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